Главная \ КНИГИ \ Электроника \ Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интерне-технологий. Глинченко А.С., Егоров Н.М.

Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интерне-технологий. Глинченко А.С., Егоров Н.М.

350 р.
Количество:
ПроизводительДМК Пресс, Москва.
АвторГлинченко А.С.. Егоров Н.М.
Год издания2014
Находится в разделах: Электроника
Рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом по исследованию полупроводниковых приборов, приведено описание реализующей его системы АЛП УД "Электроника". Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольт­амперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе. Предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины "Электроника" и других родственных дисциплин. На DVD: - демоверсия Orcad 9.1. - 30-дневная версия LabVIEW 8.5. - Интерактивное руководство к Практикуму.
Страниц352

Назад